某山东高校团队在碳材料合成过程研究中，因样品对电子束敏感，常规100kV TEM下晶态结构易被破坏，无法获取晶格和衍射信息。清析技术研究院采用冷冻透射电子显微镜（Titan Krios G3i 300kV），配合客户自行制备的铜网，成功拍摄到高分辨晶格像和清晰的电子衍射花样，证实样品为多晶结构。该方案解决了电子束损伤问题，为材料合成机理研究提供了关键证据。清析具备CMA/CNAS双资质，确保报告权
